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標(biāo)題: 比表面積測(cè)試儀原理 [打印本頁]
作者: 弘農(nóng)太守    時(shí)間: 2024-8-30 09:30
標(biāo)題: 比表面積測(cè)試儀原理
比表面積是指單位質(zhì)量物質(zhì)的表面面積，通常用m2/g表示。比表面積測(cè)定儀是一種用于測(cè)定粉末、顆粒或多孔材料表面積的儀器。比表面積測(cè)定儀的原理是通過比較吸附區(qū)域與未被占用區(qū)域之間分子壓縮膜的升降，根據(jù)這種壓縮膜的變化來測(cè)量材料的比表面積。

在使用比表面積測(cè)定儀進(jìn)行測(cè)量時(shí)，需要將樣品置于高真空或氣氛下對(duì)樣品進(jìn)行吸附。隨后，用氣載法或液相法測(cè)量吸附體積，根據(jù)吸附體積，結(jié)合比表面積測(cè)定儀的標(biāo)準(zhǔn)曲線，即可測(cè)得物質(zhì)比表面積。

作者: henantaixing    時(shí)間: 2024-8-30 09:40
學(xué)到了新知識(shí)，感謝您無私分享！
作者: 廣智    時(shí)間: 2024-9-3 12:43
樓上，非常贊同，就是這么回事！
作者: lelebang    時(shí)間: 2024-9-3 13:50
樓上，見解獨(dú)到，引人深思，厲害！



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