納米粒度分析儀的使用方法

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納米粒度分析儀的使用方法主要包括準備階段、操作階段、分析階段以及清潔與維護階段，以下是詳細說明：


一、準備階段
1.樣品準備：將待測樣品制備成均勻懸浮液，確保無顆粒團聚。若樣品為固體，需進行粉碎和分散處理。每個類型的樣品材料有最佳的樣品濃度測量范圍，如果樣品濃度太低，可能會沒有足夠的散射光進行測量；如果樣品濃度太濃，那么一個粒子散射光也會被其它粒子所散射。應(yīng)選擇適當?shù)臉悠窛舛?，即樣品出現(xiàn)輕微乳狀外觀，或以更專業(yè)的術(shù)語表示，樣品得到輕微濁度。
2.儀器預(yù)熱：開啟納米粒度分析儀，進行預(yù)熱，確保設(shè)備達到最佳工作狀態(tài)。一般需要等待30分鐘讓激光穩(wěn)定，防止內(nèi)部溫度不平衡影響測量結(jié)果。
3.軟件準備：開啟電腦，打開相關(guān)軟件，等待儀器自檢，指示燈由紅色變?yōu)榫G色常亮狀態(tài)。然后，建立測試的存儲路徑。

二、操作階段
1.校準儀器：使用標準樣品進行校準，調(diào)整儀器參數(shù)，確保測量結(jié)果的準確性。
2.注入樣品：通過適當?shù)淖悠鲗蕚浜玫臉悠纷⑷雰x器。測量粒度時，石英玻璃皿拋光的光學(xué)表面必須面向儀器前面（朝向按鈕）；測量Zeta電位時，樣品池較突出的一面必須面向儀器前面（朝向按鈕）。注入完成后確保U型管道無氣泡，蓋緊上方塞頭，放置時樣品池上的電極片干凈無水分。略傾斜粒度池，靠近內(nèi)壁面緩慢將樣品注入以避免產(chǎn)生氣泡，液體在粒度池中的高度為10 - 15mm，體積為1 - 1.5mL；Zeta電位測定時所用樣品量約0.75mL。
3.設(shè)置參數(shù)：根據(jù)樣品特性，設(shè)置激光光源功率、探測角度等參數(shù)。在軟件中選擇測量類型（如粒度或Zeta電位），輸入樣品名稱，設(shè)置測試溫度（一般為25℃）、測試次數(shù)（常選Automatic）和循環(huán)次數(shù)（通常至少3次），選擇分散介質(zhì)（通常為Water）和樣品池類型。
4.開始測量：啟動測量程序，儀器將根據(jù)散射光強、散射角度等數(shù)據(jù)，自動計算粒度分布等參數(shù)。打開或創(chuàng)建新的測量文件，從軟件中選擇Measure – Start，選擇所需的SOP，選擇Open，遵循出現(xiàn)在屏幕上的步驟。當被要求時，將樣品池插入儀器中，等待溫度平衡，點擊Start即進行測量，顯示結(jié)果并保存至打開的測量文件中。

三、分析階段
1.數(shù)據(jù)分析：使用專業(yè)軟件對測量數(shù)據(jù)進行分析，得出粒度分布圖，明確粒度大小和數(shù)量或體積百分比。
2.結(jié)果解讀：根據(jù)粒度分布圖，解讀樣品的粒度特性，如平均粒徑、粒度分布范圍等。粒度測試結(jié)果中的PDI是分布系數(shù)，表示顆粒粒度的分布寬度。若PDI大于1，則顆粒粒度的分布太寬，不適合用動態(tài)光散射方法測試。測試結(jié)果包括光強粒度分布、體積粒度分布和數(shù)量粒度分布，光強粒度分布是最初的測試結(jié)果，體積粒度分布和數(shù)量粒度分布是由光強粒度分布的數(shù)據(jù)演算而來。

四、納米粒度分析儀清潔與維護
1.清潔儀器：測量結(jié)束后，及時清潔儀器，避免樣品殘留影響下次測量。先后用水、待測樣品清洗粒樣品池（粒度池），采用無針頭注射器先后用水、待測樣品沖洗電位樣品池（電位池）內(nèi)部。
2.維護儀器：定期對儀器進行維護，確保其長期穩(wěn)定運行。禁止使用任何強腐蝕性溶劑；放入樣品測量池前，請確認池表面無液體殘留；測量溫度設(shè)置不得超過50℃；樣品中若含有機溶劑，請使用石英樣品池，用后自覺清洗；測量結(jié)束后，請做好使用記錄，自覺清潔臺面；禁止使用含有機溶劑樣品進行Zeta電位的測量。